深圳市君達(dá)時(shí)代儀器有限公司 誠信為本 質(zhì)量保證
主營產(chǎn)品：
紅外測溫儀、涂層測厚儀、超聲波測厚儀、聲級計(jì)、測振儀、轉(zhuǎn)速表、測溫儀、風(fēng)速儀、溫濕度儀、粗糙度儀、硬度計(jì)、照度計(jì),兆歐表等測試儀器。希爾思流量計(jì)。露點(diǎn)儀。
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平板示波器工業(yè)系列 平板示波器工業(yè)系列平板示波器工業(yè)系列型號規(guī)格市場價(jià)TO102100MHZ,1GS/S,18Mpts,2-CH，25萬次/s￥4,359發(fā)布時(shí)間：2016-05-10 15:25 點(diǎn)擊次數(shù)：1237 次
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美國奧豪斯產(chǎn)品（天平 酸度計(jì) 電導(dǎo)率儀 溶解氧儀 水份儀 移液器）廣東省授權(quán)**經(jīng)銷商 美國奧豪斯產(chǎn)品（天平酸度計(jì)電導(dǎo)率儀溶解氧儀水份儀移液器）廣東省授權(quán)**經(jīng)銷商序號產(chǎn)品名稱型號及規(guī)格單位單價(jià)發(fā)布時(shí)間：2016-05-10 15:18 點(diǎn)擊次數(shù)：1110 次
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金屬缺口試樣靜拉伸試驗(yàn) 金屬缺口試樣靜拉伸試驗(yàn)金屬在其他靜載荷下的力學(xué)性能——缺口試樣靜載荷試驗(yàn)（二）金屬缺口試樣靜拉伸試驗(yàn)二、缺口試樣靜拉伸試驗(yàn)缺口試樣靜拉伸試驗(yàn)分為軸向拉伸和偏斜拉伸兩種。缺口拉伸...發(fā)布時(shí)間：2016-05-06 07:48 點(diǎn)擊次數(shù)：2286 次
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如何正確的選擇福祿克的測溫儀 如何正確的選擇福祿克的測溫儀在進(jìn)行溫度校準(zhǔn)時(shí)，為參考探頭和被測設(shè)備選擇正確的測溫儀是非常關(guān)鍵的。需要考慮以下因素：準(zhǔn)確度電阻溫度計(jì)的許多測溫儀提供ppm、歐姆和/或溫度技術(shù)指標(biāo)...發(fā)布時(shí)間：2016-05-03 08:11 點(diǎn)擊次數(shù)：783 次
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KANETEC TM-801型泰斯拉測量儀 KANETECTM-801型泰斯拉測量儀KANETECTM-801型泰斯拉測量儀(磁通密度計(jì))行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)儀器的TM-801*適宜用來管理磁通密度!TM-801的水平提升點(diǎn)（與TM...發(fā)布時(shí)間：2016-04-29 12:00 點(diǎn)擊次數(shù)：1094 次
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福祿克FLUKE 360漏電流測試儀海上平臺(tái)大顯神威 福祿克FLUKE360漏電流測試儀海上平臺(tái)大顯神威案例摘要KL3-2CEPA電工在巡檢時(shí)發(fā)現(xiàn)1#UPS絕緣報(bào)警，遂通知電氣師進(jìn)行處理，電氣師到現(xiàn)場后使用FLUKE360漏電流測...發(fā)布時(shí)間：2016-04-28 08:38 點(diǎn)擊次數(shù)：1236 次
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2016中國制冷展圓滿落幕，德圖**收官 2016中國制冷展圓滿落幕，德圖**收官2016年4月9日第27屆中國制冷展完成全部會(huì)議議程勝利降下帷幕，德圖**收官。德圖展示了溫濕度記錄儀等產(chǎn)品本屆展會(huì)中，德圖通過對產(chǎn)品的...發(fā)布時(shí)間：2016-04-15 08:07 點(diǎn)擊次數(shù)：638 次
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testo德圖Testo 869紅外熱像儀推廣活動(dòng) testo德圖Testo869紅外熱像儀推廣活動(dòng)尊敬的合作伙伴：感謝您對德圖儀器的支持和信任！新春新氣象，德圖于2016年新春之始發(fā)布“德圖869紅外熱像儀”上市通知，為加速推...發(fā)布時(shí)間：2016-04-15 07:55 點(diǎn)擊次數(shù)：994 次
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德圖環(huán)境部智能測量產(chǎn)品新品發(fā)布會(huì) 德圖環(huán)境部智能測量產(chǎn)品新品發(fā)布會(huì)春夏交替，萬物復(fù)蘇。德圖中國為更貼近中國市場，推出testosmartprobe無線智能探頭系列，testo電工表產(chǎn)品系列，以testo869等...發(fā)布時(shí)間：2016-04-14 09:56 點(diǎn)擊次數(shù)：721 次
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福祿克Tix660紅外熱像儀可對微米級別的目標(biāo)進(jìn)行檢測 福祿克Tix660紅外熱像儀可對微米級別的目標(biāo)進(jìn)行檢測微米級電子芯片檢測這都不是事兒——福祿克Tix660紅外熱像儀可對微米級別的目標(biāo)進(jìn)行檢測微米級小芯片的檢測一直是研發(fā)領(lǐng)域檢...發(fā)布時(shí)間：2016-04-14 08:35 點(diǎn)擊次數(shù)：1115 次