DMM4000萬用表實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)日志功能

泰克DMM4050 和DMM4040 臺式萬用表提供了一種獨(dú)特的功能，滿足了這一需求。DMM4050萬用表TrendPlotTM實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)日志功能紙化記錄器模式為實(shí)時捕獲和顯示*小百萬分之幾的指標(biāo)變化提供了簡單的方法，而沒有耗時的設(shè)置或自定義編程工作。TrendPlot 利用機(jī)載信號處理能力和高性能模數(shù)轉(zhuǎn)換器，把測量指標(biāo)的時序轉(zhuǎn)化成容易存儲和分析的表格，同時仍保持信息細(xì)節(jié)。

DMM4050萬用表TrendPlotTM實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)日志功能隨著嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)中的電路越來越完善、容限越來越緊張，設(shè)計(jì)調(diào)試和驗(yàn)證過程中出現(xiàn)了許多新的問題。必須測量短期穩(wěn)定性、漂移和波動等參數(shù)，了解電路在測量期間的行為。如果未能迅速發(fā)現(xiàn)難檢問題，如間歇性瞬態(tài)信號和毛刺，那么可能會使項(xiàng)目耽擱幾天或幾周的時間。
DMM4000萬用表實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)日志功能為在更長的時間周期內(nèi)調(diào)試難檢問題、測量器件行為，工程師們必須捕獲和分析數(shù)千個測量數(shù)據(jù)點(diǎn)，這要求記錄大量的數(shù)據(jù)或追蹤測量趨勢，而傳統(tǒng)精密數(shù)字萬用表是不能做到這一點(diǎn)的。

泰克DMM4050 和DMM4040 臺式萬用表提供了一種獨(dú)特的功能，滿足了這一需求。TrendPlotTM 無紙化記錄器模式為實(shí)時捕獲和顯示*小百萬分之幾的指標(biāo)變化提供了簡單的方法，而沒有耗時的設(shè)置或自定義編程工作。TrendPlot 利用機(jī)載信號處理能力和高性能模數(shù)轉(zhuǎn)換器，把測量指標(biāo)的時序轉(zhuǎn)化成容易存儲和分析的表格，同時仍保持信息細(xì)節(jié)。

DMM4000萬用表實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)日志功能趨勢繪制方法
有時，一個時點(diǎn)要求測量的不只是一個指標(biāo)。參數(shù)會在不同時點(diǎn)變化。電源和參考電流或電壓可能會隨時間變化而漂移。振蕩器可能會隨溫度變化。連接器在張力下可能會開路。環(huán)境變化可能會導(dǎo)致不可預(yù)測的結(jié)果。通過在幾分鐘、幾小時或幾天內(nèi)進(jìn)行多次測量，您可以使用TrendPlotTM 量化這些變化?？梢灾苯佑涗汥C 電壓、DC電流、頻率和電阻等參數(shù)?？梢宰鳛閞ms指標(biāo)繪制AC電壓和電流曲線。通過使用相應(yīng)的傳感器，可以把溫度、壓力和濕度轉(zhuǎn)換成DC 電壓。

TrendPlot 在設(shè)計(jì)驗(yàn)證中的應(yīng)用
電源穩(wěn)定性隨時間變化情況
檢驗(yàn)電路設(shè)計(jì)指標(biāo)
捕獲間歇性事件，調(diào)試隨機(jī)關(guān)閉(繪制關(guān)鍵測試
點(diǎn)的主要參數(shù)圖，查找與波動有關(guān)的變化)
在趨勢測試溫度周期中，確定每個測試點(diǎn)關(guān)鍵參
數(shù)的趨勢
溫控晶體振蕩器電路測試
溫度監(jiān)測

DMM4050萬用表TrendPlotTM實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)日志功能在*簡單的數(shù)字記錄形式下，將使用固定的間隔獲得一系列“快照”測量。在這種情況下，儀器會對每個間隔進(jìn)行一次測量，然后把它存儲在存儲器中。非常短的測量間隔可以捕捉快速變化，但很快會用盡存儲器。相反，數(shù)據(jù)點(diǎn)越多，把*后數(shù)據(jù)集寫入存儲器所需的時間就越多，進(jìn)而會影響采樣間隔。即使存儲器容量非常大，如硬盤或閃存，但數(shù)量龐大的測量數(shù)據(jù)仍會讓您感到非常棘手。
高速固定間隔記錄容易理解，可以使用相對簡單的硬件
實(shí)現(xiàn)，但在幾分鐘或幾小時內(nèi)記錄數(shù)據(jù)通常是不可行的。用戶必須選擇讀取速率，不得不有所取舍。“是要長時間記錄呢？還是要查看快速變化？為什么不能兩者兼得呢？”